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Lo strumento di misurazione dei contorni 3D della serie CHOTEST VJ consente di acquisire facilmente i parametri 2D/3D con un solo clic.

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Lo strumento di misurazione dei contorni 3D della serie VJ di CHOTEST è un dispositivo di scansione senza contatto per l'acquisizione di immagini dei contorni 3D utilizzato in settori quali i semiconduttori, l'elettronica 3C, i dispositivi medici, i materiali magnetici e i macchinari di precisione.

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Non è necessario posizionare il pezzo, ma viene riconosciuto automaticamente e viene eseguita una rapida misurazione flash per ottenere facilmente i parametri 2D/3D. È dotato di una sonda laser lineare in grado di sopprimere l'influenza di riflessioni multiple e riflessioni diffuse sulla superficie del campione, ottenendo misure di altissima precisione.

Lo strumento di misurazione dei contorni 3D della serie VJ scansiona la superficie dei campioni di circuiti elettronici, rivelando chiaramente i contorni delle scanalature, come mostrato nell'immagine qui sopra. Estraendo una curva di profilo trasversale dall'immagine, è possibile vedere chiaramente la curva di contorno della scanalatura. A questo punto, la funzione di analisi del contorno viene utilizzata per annotare l'altezza e altri dati dimensionali dell'area della caratteristica. Una ricca serie di strumenti di misurazione 2D consente di effettuare varie misurazioni di altezza, larghezza, angolo e angoli R attraverso la forma della sezione trasversale.