Dimostrazione pratica del SEM FIB CIQTEK - Preparazione di campioni di nano micropilota

Dimostrazione pratica del SEM FIB CIQTEK - Preparazione di campioni di nano micropilota

La preparazione di campioni di nano-micropilastri è stata ottenuta con successo, dimostrando le potenti capacità del microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato CIQTEK nell'elaborazione e nell'analisi su scala nanometrica. Le prestazioni del prodotto forniscono un supporto preciso, efficiente e multimodale ai clienti impegnati in test nanomeccanici, facilitando le scoperte nella ricerca sui materiali.