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Dimostrazione pratica del SEM FIB CIQTEK - Preparazione di campioni di nano micropilota

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Dimostrazione pratica del SEM FIB CIQTEK - Preparazione di campioni di nano micropilota

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La preparazione di campioni di nano-micropilastri è stata ottenuta con successo, dimostrando le potenti capacità del microscopio elettronico a scansione a fascio ionico focalizzato CIQTEK nell'elaborazione e nell'analisi su scala nanometrica. Le prestazioni del prodotto forniscono un supporto preciso, efficiente e multimodale ai clienti impegnati in test nanomeccanici, facilitando le scoperte nella ricerca sui materiali.