Il microscopio elettronico a scansione CIQTEK facilita il miglioramento della qualità del "super nanorivestimento"

Il microscopio elettronico a scansione CIQTEK facilita il miglioramento della qualità del "super nanorivestimento"

Presentazione di CIQTEK filamento di tungsteno Scanning Eelettrone Microscopio SEM3200 fornisce ai ricercatori immagini chiare su scala nanometrica, consentendo loro di esaminare visivamente la microstruttura e la morfologia degli strati di rivestimento. Inoltre, lo spettrometro a dispersione di energia (EDS) attrezzato consente un'analisi precisa della composizione del materiale e della distribuzione degli elementi, guidando efficacemente l'ottimizzazione del processo nella ricerca e nello sviluppo.