Revolutionizing Burn-In Testing

Microtest’s Ovenless,
Energy-Efficient Solution

Nell’ecosistema dei semiconduttori il semiconductor Burn-In process è uno dei più delicati e sensibili in quanto previene difettosità fisiologiche, note in elettronica e descritte dalla c.d. Curva a vasca da bagno (bathtub ). Si tratta del diagramma con cui si rappresenta il tasso di difettosità durante il product lifecycle di un componente. Esistendo la fisiologica mortalità infantile dei componenti, la Burn-In test procedure ha l’obiettivo di identificare quei componenti affetti da mortalità infantile che devono essere intercettati e scartati, perché se immessi sul mercato potrebbero causare gravi malfunzionamenti e danni a persone o cose.

Il sistema Burn-in (burn in system) di Microtest
è rivoluzionario perché senza forno (ovenless), introduce una innovazione disruptive e molte migliorie a quelli che erano i sistemi con approccio tradizionale sui microcontrollori.