Vedi traduzione automatica
Questa è una traduzione automatica. Per vedere il testo originale in inglese cliccare qui
#Tendenze
{{{sourceTextContent.title}}}
La tecnologia di rilevamento introduce X-Scan ME per semplificare l'imaging multienergetico in ambienti industriali difficili
{{{sourceTextContent.subTitle}}}
La serie è una soluzione ideale per lo smistamento, la classificazione, l'ispezione della qualità, l'analisi dei materiali e l'ottimizzazione di complessi processi di produzione nei settori del riciclaggio di alto livello, della lavorazione degli alimenti, dell'estrazione mineraria e di altri processi industriali.
{{{sourceTextContent.description}}}
Detection Technology, leader mondiale nelle soluzioni di rilevazione a raggi X, ha introdotto oggi la serie X-Scan ME per semplificare la progettazione dei sistemi, perfezionare le prestazioni di imaging e ridurre il time-to-market degli scanner industriali multienergetici. X-Scan ME è una famiglia di prodotti completa di telecamere a linea di conteggio fotoni e di accessori per rivelatori critici, progettati per ambienti industriali difficili. La serie è una soluzione ideale per lo smistamento, la classificazione, l'ispezione della qualità, l'analisi dei materiali e l'ottimizzazione di complessi processi di produzione nei settori del riciclaggio di alto livello, della lavorazione degli alimenti, dell'estrazione mineraria e di altri processi industriali.
"X-Scan ME si inserisce perfettamente nella nostra linea di prodotti X-Scan ampliando la nostra offerta nella parte superiore. La serie soddisfa le esigenti esigenze di imaging a raggi X industriali che richiedono capacità di discriminazione dei materiali al di là delle convenzionali configurazioni a doppia energia, ma cerca robustezza, facile integrazione del sistema e facilità di manutenzione per una maggiore prestazione di scansione ed esperienza dell'utente finale", afferma Tomi Fält, Manager del Product Management presso la Security and Industrial Business Unit.
"Un buon esempio di tale applicazione è il riciclaggio dei metalli, e soprattutto l'accelerazione della riciclabilità dell'alluminio. X-Scan ME rende possibile la separazione rapida ed esatta dei gradi di alluminio, che aumenta significativamente il valore e l'utilizzabilità delle leghe separate. Come altro esempio, la tecnologia multienergetica sta portando grandi benefici all'industria mineraria. Essa fornisce informazioni energetiche precise per trovare e separare i minerali preziosi dal minerale in fasi di processo molto precoci. Ciò massimizza il valore della produzione del processo e riduce al minimo gli scarti di processo nelle fasi successive"
"Inoltre, abbiamo reso semplice l'utilizzo dei vantaggi della tecnologia multienergetica per le esigenze di scansione multiuso. Oltre alla modalità multienergetica, X-Scan ME ha una gamma di energia effettiva da 20 a 160 keV con modalità di conteggio dei fotoni configurabili. Queste semplici configurazioni sono rivolte ad applicazioni che richiedono dati precisi ed estremamente silenziosi a velocità di scansione elevate. Questo rende la sottostante tecnologia multi-energia una scelta interessante per una più ampia gamma di applicazioni avanzate di imaging a raggi X"
La serie è dotata di un preciso controllo della distanza tra i sensori e dell'allineamento, che si traduce in un array di rivelatori senza soluzione di continuità per evitare oggetti mancanti e distorsioni dell'immagine, e per migliorare l'analisi dei materiali per ridurre i tassi di falsi allarmi e gli sprechi. Questa famiglia di rivelatori spettroscopici è dotata di una configurazione ad altissimo flusso per consentire l'utilizzo di un'elevata potenza dei raggi X per la penetrazione di oggetti grandi o densi, e di velocità di scansione più elevate.
I sensori a conversione diretta ottimizzati per l'applicazione e gli algoritmi di elaborazione del segnale digitale integrati aumentano le prestazioni della serie X-Scan ME. L'azienda ha aggiornato l'elettronica di front-end della sua precedente generazione di schede rilevatrici multienergetiche e ha progettato la scheda rilevatrice X-Card ME3 XC per le particolari esigenze del mercato di destinazione. X-Card ME3 XC dispone di una capacità di conteggio fotoni raddoppiata fino a 4 Mcps/px (mega conteggi al secondo per pixel) come gamma lineare, e oltre 11 Mcps/px come gamma completa rispetto alla precedente generazione di prodotti.
La serie è costruita su una piattaforma facilmente scalabile e modulare per essere perfetta per un'ampia gamma di larghezze del nastro trasportatore e dimensioni degli oggetti. X-Scan ME è disponibile in opzioni di lunghezza fino a 1,2 metri e con diversi connettori. X-Scan ME è caratterizzato da un robusto alloggiamento classificato IP67 e da interfacce meccaniche ed elettriche affidabili. È dotato di un circuito di raffreddamento a liquido integrato per la gestione termica del rivelatore, resistente ai contaminanti e affidabile, che è una delle caratteristiche chiave nelle applicazioni multienergetiche. L'intero sistema di raffreddamento utilizza refrigeratori industriali, la cui uscita può essere diretta interamente al raffreddamento di X-Scan ME, o condivisa con un sistema di raffreddamento a raggi X.
X-Scan ME viene fornito con un'unità di controllo robusta e adatta all'applicazione, X-IM ME3-H, e un alimentatore. Inoltre, un'interfaccia di programmazione delle applicazioni (API) e un kit di sviluppo software (SDK) supportano una semplice integrazione del rilevatore con gli scanner a raggi X.
"Questo sotto-sistema di rivelatori pronto all'uso dimostra la nostra capacità di trasformare una tecnologia eccezionale in prodotti industrializzati. Poiché la tecnologia multienergetica porta la precisione di rilevamento a nuovi livelli di accuratezza, e ora che abbiamo racchiuso tutte queste meravigliose caratteristiche di tale tecnologia in una soluzione end-to-end facilmente utilizzabile e affidabile, crediamo che X-Scan ME stia per iniziare una nuova era nell'imaging a raggi X industriale di fascia alta"