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Una vista quantitativa di elettronica flessibile

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Gli ultimi particolari della nota di applicazione del Olympus come osservare la prova meccanica in situ degli apparecchi elettronici flessibili con il microscopio di esame confocal del laser del Olympus LEXT OLS4100 sta fornendo informazioni quantitative importanti per il disegno d'ottimizzazione di interconnessione.

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Amburgo, 09.02.2016 - rompendo un nuovo terreno nello sviluppo di elettronica flessibile, il Dott. Dario Gastaldi ed il suo gruppo di ricerca ai Di Milano (Milano, Italia) di Politecnico, hanno impiegato il Olympus LEXT OLS4100 come alternativa a microscopia elettronica di esame (SEM). Come componente del loro sistema di prova di affidabilità, la microscopia di esame confocal del laser fornisce informazioni quantitative importanti, alimentantesi di nuovo a ottimizzi il disegno di interconnessione in termini di sia geometria che montaggio. Questa ricerca del filo di lama è a disposizione per osservare in una nuova nota di applicazione in linea da Olympus.

Gli apparecchi elettronici flessibili hanno una ricchezza delle applicazioni potenziali, dai telefoni flessibili ai sensori chimici portabili. Un metodo di disegno permettendo che tali dispositivi sostengano la deformazione è di ricoprire le componenti elettriche su un substrato deformabile. Queste componenti rigide sono collegate via un'interconnessione flessibile e la ricerca del Dott. Gastaldi sta osservando per ottimizzare il disegno di interconnessione, impiegante la prova meccanica in situ di affidabilità per analizzare il comportamento del dispositivo nell'ambito di sforzo. Questo metodo richiede una tecnica ad alta definizione di osservazione e mentre i SEM precedentemente sono stati impiegati, non è riuscito a permettere la quantificazione precisa di deformazione dell'fuori-de-aereo.

Sostituendo i SEM con il microscopio di esame confocal del laser del Olympus LEXT OLS4100, il gruppo del Dott. Gastaldi ora ha tratto giovamento da molte caratteristiche, compreso le informazioni quantitative dal programma di altezza e dall'alta risoluzione laterale. Il LEXT OLS4100 trasporta la metrologia ottica di alta precisione ed i ricercatori ora hanno prova quantitativa sostenere come le geometrie particolari sono più resistenti a delaminazione, aumentanti il processo di disegno attraverso un sistema modellante numerico. In più, la formazione della crepa può essere seguita dettagliatamente ed è stato indicato che il trattamento del plasma dei polimeri, mentre l'adesione aumentante può promuovere fendersi. “Sono stato impressionato dalla qualità di immagine, per non accennare le informazioni quantitative,„ il Dott. commentato Gastaldi. “L'amministrazione facile del LEXT permette che noi concentriamo la nostra attenzione sulla nostra ricerca.„

Unendo la tecnologia digitale di microscopia chiara del Olympus con la prova meccanica, il Olympus LEXT OLS4100 offre le possibilità durante un campo delle applicazioni ampio attraverso tutti i settori di scienza dei materiali.

Per più informazioni, visiti prego www.Olympus-IMS.com.