{{{sourceTextContent.title}}}

Hitachi High-Tech Analytical Science lancia il nuovo analizzatore di rivestimenti FT160 XRF

{{{sourceTextContent.subTitle}}}

Il nuovo analizzatore FT160 XRF con tre opzioni di configurazione di base per l'analisi di rivestimenti in scala nanometrica.

{{{sourceTextContent.description}}}

In seguito all'introduzione della nuova serie FT160 in Giappone, Hitachi High-Tech Analytical Science vende e assiste gli analizzatori di rivestimenti della serie FT160 in Cina, Nord America, Europa, Medio Oriente e Africa. Questa ultima generazione di analizzatori di rivestimenti Hitachi è stata progettata per rispondere alle sfide della misurazione di rivestimenti ultrasottili su piccole caratteristiche. L'FT160 è un analizzatore da banco EDXRF (fluorescenza a raggi X a dispersione di energia) con un potente software e hardware creato per fornire un'elevata produttività del campione con risultati di qualità raggiunti da qualsiasi operatore. Progettata per svolgere un ruolo chiave nel controllo della qualità della produzione, la serie FT160 misura un'ampia gamma di applicazioni nei mercati dei semiconduttori, dei circuiti stampati e dei componenti elettronici.

Misurare i rivestimenti in scala nm

L'FT160 è dotato di componenti di fascia alta per fornire l'analisi finale di rivestimenti ultrasottili su strutture fini. Un'ottica policapillare focalizza il fascio di raggi X fino ad un diametro di <20 µm, concentrando una maggiore intensità sul campione e misurando caratteristiche più piccole rispetto a quanto è possibile con la collimazione tradizionale. Un rilevatore di deriva del silicio ad alta sensibilità e alta risoluzione Hitachi High-Tech (SDD) sfrutta appieno l'ottica per misurare i rivestimenti in scala nm su microelettronica e semiconduttori. Uno stadio ad alta precisione e una telecamera ad alta definizione con zoom digitale consentono un rapido posizionamento delle caratteristiche del campione per migliorare la produttività del campione.

Matt Kreiner, Product Manager di Hitachi High-Tech Analytical Science, ha dichiarato: "L'FT160 si basa sul successo dei suoi predecessori e fornisce una disposizione dell'illuminazione riprogettata per una migliore visibilità e posizionamento delle parti, nuove opzioni di configurazione per garantire prestazioni ottimizzate per applicazioni specifiche e un nuovo fattore di configurazione di base compatto per i laboratori di prova impegnati. La continua evoluzione dell'hardware e delle capacità analitiche di questa linea di prodotti rende più facile che mai ai nostri clienti controllare la produzione nel panorama della microelettronica in rapida evoluzione. L'FT160 completa la nostra linea completa di strumenti di rivestimento, il risultato di oltre 45 anni di esperienza nello sviluppo di analizzatori di rivestimenti XRF"