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#Tendenze
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Basta compromettere i risultati del SEM: come la fresatura a fascio ionico ampio elimina gli artefatti dovuti alla preparazione del campione
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Sfruttate appieno il potenziale del vostro SEM ad alta risoluzione grazie alla fresatura con fascio ionico ampio (BIB), un approccio rivoluzionario alla preparazione dei campioni che elimina i comuni artefatti.
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La lucidatura meccanica tradizionale può compromettere i risultati, causando sbavature sulle interfacce e graffi, specialmente nei materiali complessi. La fresatura BIB, invece, utilizza ioni di argon per asportare delicatamente il materiale superficiale, preservando l’integrità del campione senza alcun contatto fisico. Questo metodo eccelle nel rivelare la vera composizione e struttura dei materiali, sia che si analizzino circuiti stampati multistrato, elettrodi di batterie o compositi rinforzati con fibre. A differenza dei metodi meccanici, la fresatura BIB fornisce modelli di diffrazione per retrodiffusione elettronica più nitidi e mappe di spettroscopia a raggi X a dispersione di energia più pulite, prive di contaminazione e deformazioni superficiali.
Inoltre, migliora l’efficienza del laboratorio fornendo risultati costanti e di alta qualità, riducendo la necessità di una lucidatura manuale che richiede molto tempo. Che siate nel settore della produzione elettronica, in quello aerospaziale o in qualsiasi altro settore che richieda un’analisi microstrutturale precisa, la fresatura BIB è la soluzione universale per i vostri campioni più impegnativi. Scoprite come sistemi come l’Hitachi IM4000II possono trasformare il vostro processo di preparazione dei campioni grazie a velocità di fresatura più elevate e al raffreddamento criogenico opzionale.
Pronti a vedere la differenza? Per leggere l’articolo completo sul blog, seguite questo link: https://hte.hitachi-hightech.com/blog/stop-compromising-your-sem-results-how-broad-ion-beam-milling-eliminates-sample-prep-artifacts