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Microscopia della forza della sonda Kelvin (KPFM)

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Teoria e applicazione

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La microscopia della forza della sonda Kelvin (KPFM), nota anche come microscopia del potenziale di superficie, è un membro di una serie di metodi di caratterizzazione elettrica disponibili nei microscopi a forza atomica. Essa mappa la differenza di potenziale di contatto (CPD) tra una superficie e il cantilever, contenente informazioni sul potenziale di superficie e sulla funzione di lavoro. La funzione di lavoro è definita nella fisica dello stato solido come l'energia necessaria per rimuovere un elettrone dal livello Fermi di un solido al vuoto ed è quindi una proprietà superficiale e non correlata alla massa.

Questo articolo descrive come funziona il KPFM, e dettaglia diversi esempi di misurazioni KPFM.