Aggiungi ai preferiti
Vedi traduzione automatica
Questa è una traduzione automatica. Per vedere il testo originale in inglese
cliccare qui
#Tendenze
{{{sourceTextContent.title}}}
Analisi modale sperimentale di MEMS con tappo
{{{sourceTextContent.subTitle}}}
Test modali di MEMS incapsulati in silicio e microstrutture come servizio
{{{sourceTextContent.description}}}
Per un'analisi completa e rappresentativa dei MEMS con tappo, contattateci. I nostri PolyXperts sono lieti di ricevere il vostro campione di MEMS con cappuccio per il test modale, gli studi di fattibilità e la consulenza in tutte le fasi, dallo sviluppo alla prototipazione fino alla produzione delle vostre microstrutture incapsulate.
Una caratterizzazione completa del dispositivo MEMS nel suo stato finale e incapsulato è fondamentale per una piena comprensione e un controllo di qualità. Poiché il silicio è trasparente negli spettri del vicino infrarosso al di sopra delle lunghezze d'onda di 1050 nm, la misura delle vibrazioni basata sull'interferometro a infrarossi apre la possibilità di ispezionare i MEMS incapsulati per ottenere risultati di analisi autentici e più rappresentativi. La nuovissima e brevettata tecnologia interferometrica all'avanguardia della Polytec offre ora una qualità dei dati suprema grazie alla superiore separazione dei singoli strati di dispositivi nei dispositivi MEMS incapsulati