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Caratterizzare la topografia della superficie 3D velocemente, accuratamente e senza contatto

Perché misurare otticamente con gli intereferometri a luce bianca TopMap

Nel determinare la topografia delle superfici funzionali, gli interferometri a luce bianca come i sistemi TopMap della Polytec riducono drasticamente il tempo di misurazione rispetto ai sistemi tattili, che catturano solo una linea alla volta. E con le superfici strutturate, si ottiene un'alta riproducibilità e ripetibilità. Il suo metodo di misurazione senza contatto e quindi non distruttivo sarà il vostro vantaggio chiave quando si misura su superfici morbide o sensibili, campioni con geometrie complesse o pezzi con caratteristiche di superficie variabili.

Scoprite di più sui vantaggi della caratterizzazione ottica delle superfici, dell'interferometria a luce bianca a scansione areale e delle differenze tra ispezioni su macroscala e microscala dei parametri di forma e dei dettagli strutturali.

Metrologia ottica delle superfici in azione

Info

  • Polytecpl. 1-7, 76337 Waldbronn, Germany
  • Polytec GmbH