#Tendenze
Caratterizzazione di superfici di precisione
Valutazione della planarità della superficie, dell'altezza del gradino e altro ancora
La spettroscopia a infrarossi, che comprende le tecniche dell'infrarosso medio (MIR) e dell'infrarosso vicino (NIR), misura l'assorbimento, la trasmissione o la riflessione della luce infrarossa quando interagisce con le vibrazioni molecolari. Analizzando la luce ricevuta, la spettroscopia a infrarossi può fornire informazioni molto precise sul contenuto di grassi e sulla concentrazione di proteine nel latte e nei prodotti caseari. La cuvetta all'interno dello spettroscopio è un componente critico, costituito da materiali otticamente trasparenti di alta qualità, con una posizione accurata nell'assemblaggio grazie a dispositivi meccanici molto precisi. Gli interferometri a luce bianca TopMap (WLI o CSI Coherence Scanning Interferometers) misurano i rispettivi parametri di posizione e orientamento della finestra rispetto al dispositivo, ma anche la planarità della superficie del dispositivo e l'altezza del gradino verticale tra i diversi livelli della cuvetta.
Gli interferometri a scansione offrono una caratterizzazione senza contatto della forma, dell'altezza del gradino e della struttura, fornendo la migliore risoluzione verticale indipendentemente dal campo visivo. La copertura di un'area di interesse di 45 mm x 34 mm in un solo colpo, anche senza cuciture, consente di misurare l'intera cuvetta in pochi secondi. Rispetto alle tecniche di misurazione tattile che toccano meccanicamente la superficie in posizioni di misurazione dedicate, la misurazione ottica a tutto campo della cuvetta contiene quasi un milione di punti di misurazione.
