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L'imaging avanzato individua i difetti dei pannelli solari

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I metodi attuali per il rilevamento dei difetti nei pannelli solari in silicio, che attualmente rappresentano il 90% di tutti i pannelli solari prodotti, richiedono condizioni notturne o ombreggiate. Un approccio di ispezione che può essere distribuito sotto la luce del sole e accelerare l'identificazione delle imperfezioni è stato sviluppato dai ricercatori della Nanjing University of Science and Technology in Cina.

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Il sistema di imaging per tutte le stagioni, applicabile in qualsiasi condizione di luce, rende visibili i difetti grazie a un software che fornisce una corrente elettrica modulata a un pannello solare, facendogli emettere una luce che si spegne e si accende molto rapidamente. Un rilevatore all'arseniuro di indio gallio con un frame rate molto elevato acquisisce una sequenza di immagini dei pannelli solari mentre viene applicata la corrente elettrica. Il sistema include un filtro che limita le lunghezze d'onda rilevate a quelle intorno a 1150 nm per rimuovere parte della luce solare parassita dalle immagini.

"La velocità di imaging molto veloce permette di raccogliere più immagini in modo da poter distinguere un maggior numero di cambiamenti tra le immagini", hanno spiegato i ricercatori. "Lo sviluppo chiave è stato un nuovo algoritmo che distingue le parti modulate e non modulate della sequenza di immagini e poi ingrandisce questa differenza. Questo permette di imitare chiaramente i difetti del pannello solare in condizioni di alta irradiazione"

Applicato a pannelli solari in silicio monocristallino e policristallino, il sistema descritto in Applied Optics ha dimostrato di poter rilevare i difetti sui pannelli solari a base di silicio con irradianze da 0 a 1300 W/m2, equivalenti a condizioni di luce che vanno dal buio completo alla piena luce del sole.