Produzione di semiconduttori

Cenni sui metodi analitici per il monitoraggio dei parametri critici di qualità

Metrohm è lieta di presentare una panoramica gratuita dei metodi analitici utilizzati per monitorare i parametri critici di controllo qualità nella produzione di semiconduttori.

I metodi presentati in questa panoramica vengono utilizzati per monitorare la purezza dell'acqua, gli acidi nei bagni di incisione, la concentrazione di sali metallici nei bagni di placcatura e le impurità ioniche. In questo documento sono incorporati collegamenti ipertestuali a numerose note applicative e diversi white paper, rendendo disponibili informazioni dettagliate sulla maggior parte di queste applicazioni con un solo clic del mouse.

Per un più facile accesso, i metodi sono strutturati in base alle diverse fasi del processo di produzione, dal monitoraggio della purezza delle materie prime all'incisione, placcatura, confezionamento a livello di wafer, incapsulamento e laminazione di PCB, e infine monitoraggio del recupero di sostanze chimiche e trattamento delle acque reflue.