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PRECISE Instrument ha presentato la soluzione per il test dei parametri statici del dispositivo di alimentazione al China Optics Valley Jiufengshan Forum
Wang Cheng, vicedirettore generale dell'azienda, ha tenuto un discorso.
La rapida ascesa di nuovi materiali semiconduttori rappresentati dai semiconduttori composti avrà un impatto cruciale sul rimodellamento della struttura internazionale dell'industria dei semiconduttori nei prossimi 10 anni. Al fine di concentrarsi ulteriormente sugli ultimi sviluppi nelle tecnologie e nelle applicazioni dei semiconduttori composti come l'optoelettronica dei semiconduttori internazionali, i laser a semiconduttore e i dispositivi a semiconduttore di potenza e promuovere lo sviluppo a tutto tondo e a catena completa dell'industria dei semiconduttori composti. Dal 19 al 21 aprile si è tenuta a Wuhan la prima conferenza sul Jiufengshan Forum e Compound Semiconductor Industry Development della China Optics Valley. Con il supporto dei governi provinciale di Hubei e municipale di Wuhan, il forum è co-ospitato dal comitato di gestione della nuova zona di sviluppo tecnologico del lago orientale di Wuhan, dall'alleanza strategica per l'innovazione tecnologica dell'industria dei semiconduttori di terza generazione (CASA), dal laboratorio di Jiufengshan e da Optics Valley Alleanza della piattaforma per l'innovazione dei circuiti integrati.
Il tema di questo forum è "scalare vette, raccogliere saggezza e ispirare il futuro". Durerà tre giorni. Attraverso l'incontro di apertura, forum paralleli su 5 temi principali e oltre 70 sessioni di condivisione di report sui temi, oltre 500 rappresentanti delle imprese sono invitati a discutere di semiconduttori composti. Nuove tendenze nello sviluppo industriale, nuove opportunità nel settore e nuove tecnologie all'avanguardia.
Durante il periodo, in qualità di fornitore leader di apparecchiature di collaudo di semiconduttori e comunicazioni ottiche in Cina, Wuhan PRECISE ha introdotto misuratori di sorgenti di impulsi per test di dispositivi di alimentazione, alimentatori a impulsi ad alta corrente da 1000 A (più unità collegate in parallelo a 6000 A), alimentatori ad alta tensione da 3,5 kV alla conferenza sono apparse le unità di test della sorgente di tensione (espandibili a 10 KV) e la macchina di test dei wafer Lidar VCSEL da 100 ns. Wang Cheng, vicedirettore generale dell'azienda, è stato invitato a condividere il tema "Esplorazione dei fattori che influenzano il test dei parametri statici dei dispositivi di potenza".
