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Scoprite la testa di scansione NX-Tip di Park - Sistema automatizzato di microscopia a forza atomica (AFM) per la misurazione di display a schermo piatto ultra grandi e pesanti su scala nanometrica

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Sistema AFM automatizzato per display a schermo piatto ultra grandi e pesanti

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Per rispondere alla crescente domanda di metrologia AFM su schermi piatti di grandi dimensioni, Park Systems ha introdotto la testa di scansione NX-Tip, che risolve le sfide della nanometrologia per campioni di dimensioni superiori a 300 mm e pesi superiori a 1 kg. La testa di scansione a punta (TSH) è una testa a punta mobile progettata specificamente per le misure e le analisi AFM automatizzate su campioni di grandi dimensioni come gli schermi OLED e LCD